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影響老化測試係統整體性能的因素
影響老化測試係統整體性能的因素

影響老化測試係統整體性能的因素

1、首先是測試方法的選擇。

理想的情況是器件在老化製程上花費的時間最少,這樣可以提高總體產量。惡劣的電性能條件有助於故障加速出現,因此能快速進行反複測試的係統可減少總體老化時間。每單位時間裏內部節點切換次數越多,器件受到的考驗就越大,故障也就出現得更快。

2、老化板互連性、PCB設計以及偏置電路的複雜性。

老化測試係統可能被有些人稱為高速?測試,但是,如果機械連接或老化板本身特性會削弱信號質量,那麽測試速度將會是一?個問題。如像過多機電性連接會增大整個係統的總電容和電感、

老化板設計不良會產生?噪聲和串擾、而很差的引腳驅動器設計則會?使快速信號沿所需的驅動電流大小受到限?製等等,這些都僅是一部份影響速度的瓶頸,另外由於負載過大並存在阻抗、電路偏?置以及保護組件值的選擇等也會使老化的性能受到影響。

3、計算機接口與數據采集方式。

有些老化測試係統采用分區方法,一個數據采集主機控製多個老化板,另外有些係統則是單板式采集。從實際情況來看,單板式方法可以采集到更多數據,而且可能還具有更大的測試產量。

老化測試係統

4、對高速測試儀程序的下載及轉換能力。

有些老化測試係統有自己的測試語言,對需要做100%節點切換的被測器件不用再開發程序;而有些係統能夠把高速測試儀程序直接轉換到老化應用上,可以在老化過程中進行更準確的測試。

5、係統提供參數測試的能力。

如果老化測試係統能進行一些速度測試,那麽還可得到其他一些相關失效數據以進行可靠性研究,這也有助於精簡老化後測試製程。

6、根據時間動態測試參數的能力,如電壓與頻率。

如果老化測試係統能夠實時改變參數,則可以加快通常屬於產品壽命後期階段故障的出現。對於某些器件結構,直流電壓偏置及動態信號的功率變動都可加速出現晚期壽命故障。

7、計算機主機與測試係統之間的通訊。

由於功能測試程序非常長,因此測試硬件的設計應盡可能提高速度。一些係統適用較慢的串行通訊,如RS-232C或者類似協議,而另一些係統則使用雙向並行總線係統,大大提高了數據流通率。

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